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關于X光機半價層檢測方法

更新時間:2024-05-10   點擊次數:200次

有用線束半值層 HVL

將劑量儀探頭放在影像接收器外殼上照射野中心,檢測幾何條件:將管電壓檢測探頭放在影像接收器外殼或診斷床上照射野中心,調節焦點到探頭的距離為 100cm[小型便攜機及透視實時攝影(點片裝置)系統可采用實際 SID 值],探頭下方放一塊鉛板,設置光野10 cm×10 cm(照射野應全部覆蓋探測器靈敏區域并略小于鉛板尺寸),中心線束與臺面垂直。。 

設置管電壓為 80 kV,臨床常用管電流時間積,并進行曝光,記錄空氣比釋動能值。 

分別將不同厚度(0 mm,1 mm~5 mm)的鋁吸收片依次放在診斷床上方 50 cm(或 1/2 SID)處,用同樣的條件進行曝光,依次測量并記錄空氣比釋動能,直至測得的空氣比釋動能值小于未加鋁片時空氣比釋動能值的一半。 

用作圖法或計算法求出 80 kV 時的半值層。

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